(七)干扰消除

1.质谱型干扰

质谱型干扰主要包括同量异位素干扰、多原子离子干扰、氧化物和双电荷干扰等。同量异位素干扰可以使用干扰校正方程进行校正，或在分析前对样品进行化学分离等方法进行消除、常用的质量数干扰校正方程见表5-42。

表5-42 ICP-MS测定中常用干扰校正方程

多原子离子干扰是ICP-MS最主要的干扰来源，可以利用干扰校正方程、仪器优化以及碰撞反应池技术进行消除。常见的多原子离子干扰见表5-43。氧化物干扰和双电荷干扰可通过调节仪器参数降低干扰程度。

表5-43 ICP-MS测定中常见干扰测定的多原子离子

2.非质谱型干扰

非质谱型干扰主要包括基体抑制干扰、空间电荷效应干扰、物理效应干扰等。非质谱型干扰程度与样品基体性质有关，可通过内标法、仪器条件优化或标准加入法等措施消除。

相关链接：固体废物金属元素的测定电感耦合等离子体质谱法（二）

文章来源：《危险废物鉴别及土壤监测技术》

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