据悉，《电子电气产品中某些物质的测定 第4部分：CV-AAS，CV-AFS，ICP-OES和ICP-MS测定聚合物，金属和电子件中的汞》是由全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会上报，全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会有害物质检测方法分会执行，国家标准化管理委员会主管的，是起草组在参考了原有的标准政策，并引用了IEC 62554《测量荧光灯内汞含量的样品的制备》、GB/T 6682-2008《分析实验室用水规范和试验方法》等文件后起草的，规定了电子电气产品中汞含量的四种测定方法。

本标准等同采用了用IEC 62321-4:2013+AMD1:2017《电工电子产品中某些物质的测定 第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中的汞》，但相较于原标准，主要修改如下：修改了标准名称；考虑到方便标准使用者对于标准的理解和使用，增加了对痕量金属级的注解；将“豁免”改为“应用例外”。

本标准描述了四种方法的使用步骤，分别是冷蒸气原子吸收光谱法、冷蒸气原子荧光光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法和电感耦合等离子体质谱法，而这四种方法均具有不确定度小、高灵敏度、检出限低等特点，可以测定4mg/kg-100mg/kg含量范围内的汞，且准确度和精确度都很高。此外，采用热分解-金汞齐结合冷蒸气原子吸收光谱法，无需样品消解，即可对汞进行直接测定，且由于样品量少，检出限会高于其他方法。

值得注意的是，因本部分并未指出所有可能的安全问题，故而操作本部分方法的人员应有正规实验室工作的实践经验，且使用者也应采取符合国家有关法规规定条件的、适当的安全和健康措施。