当对分析结果的准确度要求不高，但要求快速分析时，可应用半定量方法简便地解决问题。常用的半定量分析方法有谱线强度比较法和谱线呈现法。

1.谱线强度比较法

将被测元素预先配制成含量分别为1％、0.1%、0.01％和0.001％的四个标准样品，将它们与标准试样在相同实验条件下同时摄谱，在同一光谱图上从摄得的谱线上找出被测元素的灵敏线，再比较被测元素灵敏线的黑度与标准样品中该谱线的黑度，可用目视比较确定欲测试样中被测元素的约略含量范围。

2.谱线呈现法

在光谱上谱线出现的数量随元素含量的降低而减少。当元素含量足够低时，仅出现少数灵敏线；当元素含量逐渐增加时，出现谱线的数量也随之逐渐增多，因而可编制一张元素含量与出现谱线的关系表，在一定的实验条件下进行半定量分析，如铅元素的含量与出现谱线的关系如表3-6所示。

表3-6铅元素含量与出现谱线的关系

此法优点是不需制备标准样品，但要保持实验操作条件的一致性。

3．标准溶液部分校准法

对ICP发射光谱分析，由于影响分析性能的参数较多，对使用ICP光源的半定量分析尚无通用的方法，仅介绍标准溶液部分校准法。

本法使用含Ba、Cu、Zn三个元素的标准溶液校准仪器，标准溶液的浓度及分析线见表3-7。分析线选择使其覆盖常用波长范围。

表3-7混合标准溶液的分析线和浓度

应用一个预定程序，可对多达29个元素的试样进行半定量分析。由于试样基体可对分析线产生光谱干扰，该程序首先显示全部分析线的扫描光谱图，观察分析线是否有畸形或不对称的情况，若有就应更换受干扰的分析线，然后进行样品分析，依据谱线强度的变化，可对常见元素Ag、Al、As、B、Be、Bi、Ca、Cr、Co、Cd、Cu、Fe、Li、Mg、Mn、Mo、Na、Ni、Pb、Pt、Si、Se、Sb、TI、V、Zn进行半定量分析，方法偏差约25％。

由于ICP光源温度高，发射的光谱谱线数量多，并且复杂，谱线经常受到干扰，所以使用ICP光源进行半定量分析方法的应用会受到限制，半定量分析结果的偏差大小，会受到试样组成的复杂程度及ICP仪器的性能影响，通常分析高含量组分偏差较小，而对痕量组分的半定量分析是不准确的，偏差较大。

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