单晶硅红外透射比标准物质

Infrared Transmittance(Monocrystalline Silicon)

本标准物质主要用于中红外分析仪器的校准、材料的透射比赋值及验证检测方法，以及为材料的透射比值提供国内外权威、统一的测试数据。

一、样品制备

本标准物质为物化性能稳定的双抛单晶硅制成。

二、溯源性及定值方法

红外透射比采用绝对测量法定值，定值测量时入射角度为正入射，接收时在样品正后方接收。定值测量条件为切趾函数 Blackman-harris  3  term。标准物质特性量标准值直接溯源至国家基标准([2012]国量标计证字第 246 号)。

三、特性量值及不确定度

标准值的不确定度主要由定值测量、均匀性、稳定性等引入的不确定度分量合成而得。四、均匀性检验及稳定性考察

参照 JJF1343-2012《标准物质定值的通用原则及统计学原理》，对分装后的样品进行随机抽样。采用 F 检验法对样品的均匀性进行检验、采用线性拟合法对样品的稳定性进行考察，结果为均匀性、稳定性良好。

本标准物质自定值日期起，有效期 1 年，研制单位将继续跟踪监测该标准物质的稳定性，有效期内如发现量值变化，将及时通知用户。

五、包装、储存及使用

1. 包装：本标准物质采用硬质纸盒包装，1 片/盒。
2. 储存：本标准物质需要存放在恒温恒湿的密闭环境中，温度范围 20～30℃，湿度范围 30%～35%RH。

声明

1．本标准物质仅供实验室研究与分析测试工作使用。因用户使用或储存不当所引起的投诉，不予承担责任。

2．收到后请立即核对品种、数量和包装，相关赔偿只限于标准物质本身，不涉及其他任何损失。

3．仅对加盖“中国计量科学研究院标准物质专用章”的完整证书负责。请妥善保管此证书。

4．如需获得更多与应用有关的信息，请与技术咨询部门联系。

注：证书信息仅供参考，以产品附带证书为准。