(1)导数光谱法

实际使用的商品ICP光谱仪多数只有中等分辨率，现在具有较高分辨率的导数光谱开始应用在ICP光谱仪分析中并已经有了深入的研究。近年来有不少用数值微分法后的导数光谱来进行高纯物质的ICP光谱仪分析的研究报道。导数技术有类似于提高谱线分辨率的作用，减弱光谱干扰对捡出限的影响。

(2)适当分析线的选择

选择合适的分析线从而避免光谱线的干扰是最简单也是适用的消除光谱干扰的方法。进行谱线选择时可以使用以ICP放电为基础的专用光谱线波长表和图谱。有些光谱仪器中带有自动波长选择装置，可以迅速准确地选择分析线。

(3)干扰系数法

通过测定干扰元素、标准溶液在待测元素谱线位置处的强度，求出单位浓度干扰元素的干扰量(干扰系数)，再计算出应予扣除的干扰线影响的浓度值。干扰系数可以表征干扰元素对分析元素干扰的程度也称之为干扰因子或K系数。干扰系数法是实际应用最广泛的校正光谱干扰的数学方法之一。为了更准确快速的校正光谱干扰，许多分析工作者在K系数的基础上对其进行了改进。

当混合干扰严重时，某些干扰元素在干扰待测元素的同时，自身又受到其他干扰元素的干扰， 采用干扰系数法势必产生误差。

(4)离峰扣背景法

背景的存在会使分析线信号测量值产生正的偏离，背景发射强度总是叠加在分析线发射强度上，使分析结果准确度变差。离峰扣背景方法是在离峰位置测量背景强度，从而达到扣除背景干扰的目的。通常采用下述两种方法：

①非峰值背景测量校正法，该法是把分析线近旁的强度作为背景来校正。但当谱线两翼背景不均匀时，这种校正方法并不都能得到良好效果。

②空白测量校正法，用模拟样品基体的空白溶液在分析线位置进行背景及其它光谱干扰信号的测量，并将此信号换算为与分析物相当的所谓“背景等效浓度”，而从分析物表观浓度中扣除．这种离峰背景校正技术在ICP-AES中已普遍适用，在ICP-AES仪器中常采用光谱位移器来扣除背景干扰。此方法的缺点是当背景分布不均匀时，由于存在波长漂移，测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致，甚至使背景校正失败。

(5)谱峰分离方法

基于光谱谱线的加和性原理，将重叠的谱峰按一定数学模型分解为两个或两个以上组分的谱峰，可以有效地消除谱线重叠干扰。SMCR技术不用改进光谱仪系统，就可使实际分辨率提高10～20倍以上，是一种很有发展潜力的校正方法。

(6)卡尔曼(Kalman)滤波法

卡尔曼滤波法(KF)通过对一系列带有噪声(误差)的实际测量数据进行处理，滤除干扰或噪声，得到有用的各状态的估计值。这种方法能校正各种类型的光谱干扰，不需要进行样品基体匹配，可简便、准确地处理数据。

（文章来自中国化工仪器网）

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