1．质谱法的基本过程

(1)样品的离子化。用一定的方法使样品分子转变成气态离子，对于有机化合物，如果在离子化过程中接受了过多的能量，新生的分子离子(molecular ion)会进一步裂解，生成各种碎片离子(flagment ions)。

(2）离子的分离、分析、检测。

(3)信号记录，数据采集与处理。

质谱法所得信息是离子的质量及其强度。这些数据可以列成表，但最常用的是以离子的质量与其所带的电荷的比值(质荷比，m／z)为横坐标，强度为纵坐标制成质谱图(mass spectrum)。

2．质谱图中常用的术语

(1)质荷比(m／z)

质荷比是离子的质量和该离子所带静电单位数的比值。在质谱法中产生的离子如只带一个静电荷，此时离子的质荷比常视作离子的质量。

(2)基峰与相对强度

基峰(base peak)是质谱图中的最强峰。质谱峰的强度常以相对强度衡量，以基峰的强度为100，算出各个质谱峰的相对百分强度。质谱图左边的纵坐标即为相对强度(relative intensity)。基峰位于m／z 58处。

(3)分子离子(molecular ion)

分子离子是样品分子失去或得到一个电子形成的。分子离子代表完整的样品分子，是所有其他碎片离子的终极前体。由分子离子的值可得到该化合物的分子量。此分子量是组成该分子的各种元素的最轻同位素原子量之总和。分子离子如为阳离子则以M+表示，’+’代表该离子具有一个正电荷，“·”代表自由基，故此离子为自由基阳离子。如为阴离子则以M一表示，为自由基阴离子。M+及M一均含未成对电子，又称奇电子(odd electron)离子。 m／z 285处的峰为分子离子峰。分子离子提供了最有价值的质谱信息，包括分子量、元素组成与碎片离子相关的结构信息。有些情况下，分子离子峰通常表现为基峰。但并不是在所有的质谱图中，凡是基峰就是分子离子峰。准分子离子峰或碎片离子峰有时可能成为基峰。分子峰m/z285不是基峰。

(4)准分子离子(quasi—molecular ion)

准分子离子产生取决于化合物的性质和质谱离子化方法及条件，可生成质子化或去质子的分子，即[M+H]’、[M—H]一及加合物离子，如[M+Na]+、[M+c1]-等，这些均为偶电子(even electron)离子。准分子离子不含未配对电子，结构上比较稳定。

(5)同位素离子(isotopic ion)

这是由于有丰度较低的重同位素存在而产生的离子。

(6)碎片离子(fragment ion)

广义的碎片离子包含分子离子碎裂而产生的一切离子。狭义的碎片离子指由简单断裂产生的离子。

(7)重排离子(rearrangement ion)

它是经重排反应产生的离子，其结构并非原来分子结构单元。

(8)母离子(parent ion)与子离子(daughter ion)

任何一离子进一步产生了某离子，前者称为母离子，后者称为子离子。分子离子是母离子的一个例子。母离子又称前躯或母体(precursor)离子。

(9)亚稳离子(metastable ion)

亚稳的意思就是介于稳定和不稳定之间。如果是稳定的离子，在离子源生成之后可一直稳定地存在，直到被检测。如果是不稳定的离子，它在离子源内即已碎裂为别的离子。亚稳离子介于上述两种离子之间，是从离子源出口到检测器之间产生的离子。

在上面的质谱图中，比m／z 285的分子离子峰高出l～2个质量数的强度较低的峰，即m/z286和m／z 287的质谱峰为同位素峰。同样，碎片离子峰也有同位素峰相伴随。