(1)对全未知的有机化合物结构鉴定，应首先测定分子量，元素组成，得到分子式，计算其不饱和数。

(2)根据化合物性质，提出绘图要求——溶剂、扫描宽度、积分、放大部分等，得到谱图应该检查质量，如标准物信号位置、信噪比、基线和样品纯度情况。若遇峰很钝、裂分不明显、基线不平衡等情况应采取措施(处理样品，调试仪器等)加以改善。

(3)根据积分曲线表示的各组峰面积积分比，并以孤立的甲基或亚甲基峰为标准，计算各组峰所代表的相对氢核数目。

(4)由化学位移识别各组峰所代表氢核的性质，如芳氢、烯氢、饱和碳一氢等，对活泼氢可用重水交换给以证实，结合积分比，估计可能存在的官能团，对有些简单化合物的结构甚至可作初步判断。

(5)根据化学位移、自旋分裂和偶合常数，详细分析分子中各结构单元的关系，用一级近似，解析一级类型图谱。解析时要注意有无以下情况，以免出错：虚假远程偶合、假象简单图谱、分子的对称性、动力学现象；个别峰重叠严重，应作加宽、放大图；怀疑可能有假象简单图谱或化学位移巧合者，可以改变溶剂或改变浓度重新画图。

研究自旋分裂和偶合常数，有助于了解分子内的键合情况和空问关系，为氢谱解析的主要内容。

(6)一张谱图经常有一级类型部分和高级图谱部分，可以由易到难，逐步解析。

对高级图谱。应根据图谱特点识别自旋系统，测量和计算化学位移和偶合常数，画出图解。

多重峰解析有困难时，可借助于溶剂效应、双照射或添加位移试剂等，以简化谱图。

(7)由述上程序得到的结构信息，画出合理的结构式(有时不止一个)一工作结构(working structures)。

(8)用经验公式或类比方法考查工作结构的全部δ，J值，证明判断正确，或由几种可能的结构式中挑选最合理的一个。

对复杂化合物的结构鉴定，有必要应用二维谱或与其他光谱方法综合解析。

查对标准谱图或与标准物质的共振谱对照也是经常使用的验证方法。

对复杂谱图解析，计算和测量的δ，J等参数及自旋系统是否正确，可以用核磁共振电子计算机模拟，作进一步的证明。一张谱图由一组n个化学位移和J值表明。在量子力学方程作正确解答的基础上，某种计算机程序可用以计算和描绘出相应的谱图，也能在适当的计算时间内处理数据，计算和处理可在获得图谱的同时进行而不影响波谱仪的正常工作。这种计算和模拟，对化学工作者很简单，只要将预期的或计算的δ值(Hz或ppm)，J值(Hz)和一些控制参数，如谱宽、出界等数据输入计算机中，波谱仪即可以给出符合上述数据的模拟谱。

模拟谱与实测谱基本一致，说明谱图解析是正确的。

模拟一级类型谱图不受J值符号的影响，而对高级谱图，J值的符号通常是重要的,必须注意。一个真实的二级谱图，推测其参数是很困难的，必须重复多次实验，才有可能得到参数的精确值，所以模拟谱是用实验方法寻找近似参数的可行手段。