(1)外标法

定量时，在薄层上点样品溶液时随行点已知浓度的对照品溶液。外标法可分为外标一点法和外标二点法。当工作曲线是通过原点的直线时，选用一种浓度的对照品溶液为外标一点法；当工作曲线不通过原点时，选用高低两种浓度的对照品溶液随样品溶液点在同一薄层上为外标二点法。以上两种方法的校正不仅可以对一个对照品斑点，还可以对2个或4个同样量的对照品斑点的测得值进行平均后计算。此外还可在同一薄层上点不同浓度的对照品溶液，然后将所得斑点的面积值与浓度得回归方程，根据回归方程计算样品中待测成分的含量。

(2)内标法

本法与外标法的主要区别在于用内标法时面积累计值为被测成分和内标物斑点面积值之比，在样品溶液中加人一种在样品溶液中不存在的、但性质与被测物质类似且又与样品中被测成分很易分离的纯化合物。但内标物的选择比较困难，因此在薄层定量时很少选用内标法。内标法也分为一点法及二点法，选择哪种方法的原则与外标法相同。在总斑点面积中所占的百分比。当然只有在被分析各组分的性质(分子量、吸收系数)差别较小以及斑点面积在线性范围内的情况下才适用。

薄层扫描仪的组成及主要功能

薄层扫描仪的生产厂家、型号不同，其仪器的外形、光路系统及某些功能有些差异，但其基本结构及主要功能是基本相同的，每台仪器都包括主机、数据处理及信号输出等部分。

①分光器及测量范围多数薄层扫描仪的分光器为光栅，少数为棱镜，极个别的用滤光片。其测量范围光栅为200—800nm，棱镜为200～2500 nm。
②光源及检测器光源室具有可见光源钨灯，波长范围为400～800nm；紫外光源氘灯波长范围为200～400nm；荧光光源为氙灯或汞灯。操作时可通过光源选择杆来变换光源选择镜的位置。检测器一般为光电倍增管。

薄层扫描测定方法

(1)吸收测定法

凡在可见光及紫外光区有吸收的化合物，分别用钨灯为光源，在波长200～800nm范围选择合适波长进行测定，根据对光测定方式的不同，可分为下列几种。

①透射法 光源与光电检测器安装在薄层板的两侧。由光源发出的光经单色器(或滤光片)后成为一定波长的单色光，照射到薄层上的斑点，光通过斑点被吸收一部分，用光电倍增管在薄层另一侧测量透射光强度。

由于一般薄层板适用的玻璃板为普通玻璃能吸收小于330nm的紫外光，故用普通玻璃的薄层板时不能用短波长紫外光做透射扫描，在应用上受一定限制。本法灵敏度虽高，但薄层的不均匀度及厚度对测定都有影响，基线噪声大，故信噪比小，因此实际应用较少。

②反射法 光源与光电检测器安装在薄层同测，由光源发出的光经单色器(或滤光片)后成为一定波长的单色光，光电倍增管置于45℃角处测量反射光强度，此法灵敏度较低，受薄层表面不均匀度的影响较大，但对薄层厚度要求不高，基线比较稳定，因此信噪比较大，重现性较好。反射法测量玻璃板无影响，在紫外、可见光波长范围内均可测定，不受波长限制。目前薄层扫描定量一般多采用反射法测定。

③透射一反射法 本法系同时测定反射光及透射光，对测得的两种光信号相加。这种测量方式可以部分补偿由于薄层厚度不均匀所造成的测量误差。因此基线平稳、测量误差减小、灵敏度增加，但这种仪器的构造较复杂，且这样的仪器一般少见。

(2)荧光测定法

凡化合物本身或经过色谱前后衍生化能生成对紫外光有吸收并能放出更长波长光的化合物适用荧光测定法。光源用氙灯或汞灯，测定时先在紫外光区选择最大吸收波长作为该化合物的激发光波长λex,固定λex后，再选择合适的波长作为发射光波长λem,发射光波长选择方法要根据仪器的结构，发射光波长可由斑点的发射光谱或尝试法决定。

对具有发射光单色器的薄层扫描仪，才能测定荧光斑点的荧光发射光谱从而选择发射光波长。但一般常见的薄层扫描仪只具有激发光单色器，用滤光片代替了发射光单色器，这种仪器不能测定斑点的荧光发射光谱，发射光波长的选择，只能由选择发射滤光片来粗略实现。

在荧光测定法中，光源通常使用能量较高的汞灯或氙灯，产生的光经单色器或滤光片变成单色光照射到薄层的斑点上，然后用反射法测量斑点被激发所产生的荧光。
在光电检测器前放置二级滤光片滤去照射到薄层后反射的激发光。荧光测定法的优点在于灵敏度高于吸收测定法100～1 000倍，最低可测至10—50pg；荧光测定法的专属性强，可避免一些杂质的干扰，基线也较稳定，定量的线性范围相当宽。

(3)荧光猝灭法

含有荧光剂的薄层板，在紫外光照射下，薄层(背景)产生荧光，对紫外光有吸收的化合物斑点处，由于一部分光被化合物吸收，照射到薄层上的紫外光强度减弱，故产生的荧光也减弱，化合物斑点呈暗色。在测定中，扫描到斑点时，即可由荧光减弱的程度测出化合物的含量。由于吸附剂与荧光剂很难混合均匀，故薄层板各部分的荧光强度多少有所差别，故基线噪声较大，对定量不太适用，但便于斑点的定位。