利用遥感FTIR直接测量辐射源的光谱发射率ε(λ)实际上是很困难的，因为仪器测得的待测源的单光束光谱是以下几个部分的和^[15]：

S_s(λ,T) =R(λ,T)[ε(λ)W_bb(λ,T)+I(λ)r(λ)+B(λ)]                        (16-11)

式中，R (λ,T)为仪器的响应函数；ε(λ)为样品的比辐射率；w_bb(λ,T)为同一温度下黑体的光谱辐射通量密度(理论普朗克函数);B(λ)为直接射到检测器上的仪器背景辐射值；r(λ)为样品的反射率；I(λ)为射到样品上的背景辐射。

为了提高遥感发射光谱测量的灵敏度，通常使用灵敏度较高的MCT检测器。由于该检测器的工作温度为77K，这样在测量时各种背景发射的影响就成了不可忽略的因素，因此在进行系统的实验之前，必须对仪器在各个温度下的响应函数进行校正。仪器响应函数R (λ,T)可事先用黑体进行标定^[16]，校正步骤如下：

让一个已知温度的黑体发出的光，充满光谱仪视场(FOV )，记录它的单光束发射光谱W_黑体(λ)，用它减去背景单光束光谱W_背景(λ)，再去掉常温下大气中的水蒸气和二氧化碳的吸收，得到一条扣除了背景干扰和水蒸气、二氧化碳吸收的黑体的表观发射光谱。用此测得的发射光谱除以同一温度下黑体的光谱辐射通量密度[即理论普朗克函数，W_bb(λ,T)]，就可得到该温度下仪器的响应函数R (λ,T)。

一般情况下，从样品反射的辐射是很小的，因此I(λ)r(λ)可以忽略。而背景辐射R(λ,T)B(λ)=S_背景(λ,T)与样品辐射相比，往往是不能忽略的，因此必须要扣除。

测得仪器的响应函数，就可以对待测辐射源的光谱能量分布进行测量。在温度为T时，测得待测红外辐射源和标准黑体的单光束光谱S_样品(λ,T)和S_背景(λ，T)，则可以计算出样品的光谱辐射能量其单位是W/(cm²·Sr·cm^-1)，式中，R(λ, T)为温度为T时所用仪器的响应函数。

待测辐射源的光谱发射率与温度有关，按照此式，即可得到样品的发射率

如果样品的发射率与温度无关，为了消除各种背景辐射和仪器函数的影响，样品的发射率ε(λ)可通过以下步骤进行测量。

在温度为T₁和T₂下，测定黑体的光谱辐射通量密度W₁(λ,T₁)和W₂(λ,T₂)，以及样品的光谱辐射通量密度W₃(λ,T₁)和W₄ (λ,T₂)。

对于黑体，光谱发射率ε(λ)恒等于1，反射率r(ε)等于0，则有

W₁(λ,T₁)=R(λ) [W_bb(λ，T₁)+B (λ)]                        (16-15)

W₂(λ,T₂)=R(λ) [W,b (λ，T₂)+B (λ)]                        (16-16)

对于样品，有

W₄ (λ ,T₁)=R(λ)[ε(A) W_bb (λ,T₂)+r (λ) I (λ)+B (λ)]                        (16-17)

W₄ (λ,T₂)=R(λ)[ε(A) W_bb (λ,T₂)+r(λ)I (λ)+B (λ)]                        (16-18)

在做光谱辐射能量分布测量时，要用到表16-1所示的辐射量单位。

表16-1常用辐射，定义及单位^[11]